Notice: Undefined index: HTTP_ACCEPT_LANGUAGE in /var/www/kos.fs.cvut.cz/lib_locale.php on line 9

Notice: Undefined index: HTTP_ACCEPT_LANGUAGE in /var/www/kos.fs.cvut.cz/lib_locale.php on line 11
KOS.FS - fakultní nadstavba
  česky  čs
english  en
Nanotechnologie (2361038)
Katedra:ústav přístrojové a řídící techniky (12110)
Zkratka:Schválen:26.05.2005
Platí do: ??Rozsah:2+1
Semestr:*Kredity:4
Zakončení:Z,ZKJazyk výuky:CS
Anotace
Záměrem předmětu je, aby studenti získali pojem co to jsou a co předstravují nanotechnologie, jak je vyrábět a měřit, a znalost, kde lze očekávat jejich použití a využití v technocké praxi. To vše s důrazem na možnosti, výrobu a aplikaci mikromechanických prvků, jako další rozšíření přesné mechaniky směrem k menším rozměrům.
Vyučující
doc. Ing. Jan Hošek Ph.D.
Letní 2018/2019
doc. Ing. Jan Hošek Ph.D.
Letní 2017/2018
Osnova
Úvod do fyziky nanomateriálů, základy krystalografie, vlastnosti křemíku a nové jevy očekávané u jeho nanokrystalů a jejich využití, stabilizace nanočástic, tvorba zárodků a jejich růst, nanodráty, tenké vrstvy, fullereny, nanotrubičky, nanodiamand, polymerní nanokompozity, foto a RTG litografie, elektronové a iontové obrábění, nanomanipulace, STM mikroskop, AFM mikroskop, mikromechanické struktury, aplikace mikromechanických struktur, aplikace nanostruktur a nanomateriálů v technice a biologii.
Osnova cvičení
Účast na exkurzích k jednotlivým přístrojům a zařízením. Vypracovaný a přednesený referát v délce 10 minut na vybrané táma týkající se nanotechnologií.
Literatura
Hošek J. Úvod do nanotechnologie, Skripta ČVUT, 2010
Kubínek, Vůjtek, Mašláň -Mikroskopie scanující sondou, Univerzita Palackého Olomouc
Československý časopis pro fyziku
Scientific American, Special Issue Nanotech
www.research.ibm.com
Požadavky
účast na exkurzích, přednesený referát, znalost obsahu přednášek
Klíčová slova
Nanotechnology, AFM, STM microscopy, MEMs, litography
data online/KOS/FS :: [Helpdesk] (hlášení problémů) :: [Obnovit] [Tisk] [Tisk na šířku] © 2011-2017 [CPS] v3.7 (master/5b4923ae/2019-02-18/09:35)