Teorie metrologických procesů (W34OZ005)
| Departments: | ústav obrábění, proj. a metrologie (12134) |
| Abbreviation: | | Approved: | 21.01.2021 |
| Valid until: | ?? | Range: | 4P+2C |
| Semestr: | | Credits: | |
| Completion: | ZK | Language: | CS |
Annotation
• Metrologické zabezpečení a úloha v managementu jakosti
• Geometrické vlastnosti povrchu (přímost, rovinnost, kruhovitost, válcovitost, drsnost), úchylky polohy
• Dotykové a bezdotykové metody měření
• Volba metody měření a přístrojového vybavení
• Etalonáž vybraných veličin
• Teorie chyb a nejistota měření, nejčastěji používaná rozdělení
• Vyhodnocení naměřených dat
• Vybrané kalibrační postupy
• Systém norem GPS (Geometrical Product Specifications) a začlenění metrologie
• Souřadnicové měřicí stroje
• Laserinterferometry
• Měření úchylek tvaru a textury
Structure
Literarture
• Servin, M., Quiroga, J. A., Padilla, M.: Fringe pattern analysis for optical metrology: theory, algorithms, and
applications. Hoboken, NJ: Wiley, 2014. 345 p. 9783527411528-
• Tůmová, O.: Metrologie a hodnoceni procesů. 1. vyd, Praha: BEN - technická literatura, pp. 231, 2009, ISBN 978-80-7300-249-7.
• odkaz: Moodle ČVUT https://moodle-vyuka.cvut.cz
čs
en