Teorie metrologických procesů (W34A002)
Katedra:ústav obrábění, proj. a metrologie (12134)
Zkratka:Schválen:16.05.2007
Platí do: ??Rozsah:60B
Semestr:Z,LKredity:
Zakončení:ZKJazyk výuky:CS
Anotace
doc. Ing. Rudolf Dvořák, CSc.

Metrologie geometrických veličin. Geometrické vlastnosti povrchu: úchylky tvaru a polohy, textura, vliv na funkci. Nové metody měření a přístrojové vybavení. Souřadnicové měřicí stroje, konstrukce, možnosti a postupy měření, software. Metrologické zajištění v ČR. Legální metrologie. Metrologická konfirmace. Primární a sekundární etalonáž. Ověřování a kalibrace. Prokazování shody se specifikacemi. Teorie chyb, přesnost a nejistota měření, postup výpočtu. Laserinterferometry a aplikace pro přesná měření.
Osnova
1. Metrologické zabezpečení a úloha v managementu jakosti
2. Geometrické vlastnosti povrchu (přímost, rovinnost, kruhovitost, válcovitost, drsnost), úchylky polohy
3. Dotykové a bezdotykové metody měření
4. Volba metody měření a přístrojového vybavení
5. Etalonáž vybraných veličin
6. Teorie chyb a nejistota měření, nejčastěji používaná rozdělení
7. Vyhodnocení naměřených dat
8. Vybrané kalibrační postupy
9. Systém norem GPS (Geometrical Product Specifications) a začlenění metrologie
10. Souřadnicové měřicí stroje
11. Laserinterferometry
Osnova cvičení
Měření úchylek tvaru a textury
Měření na souřadnicovém měřicím stroji
Výpočet nejistoty měření
(event. další možné úlohy dle tématu disertační práce)
Literatura
- Zákon č. 505 o metrologii
- Normy mezinárodního systému GPS
- Internetové adresy: www.unmz., cmi, zeiss, imeco-th, mitutoyo, metrology, deom, mesing, topmes, calibr, amest (vše cz), aquastyl(sk) a další.
- A Beginner's Guide to Uncertainty of Measurement; Author: Stephanie Bell
- Fundamental Good Practice in Dimensional Metrology; Authors: Flack, D & Hanniford, J
- Estimating Uncertainties in Testing; Author: Birch, K
- CMM probing; Flack, D
- CMM verification; Author(s):Flack, D
- CMM measurement strategies; Author(s):Flack, D
- Dimensional measurement using vision systems; Rodger, G
- The measurement of rough surface topography using coherence scanning interferometry; Petzing, J*, Coupland, J*, Leach, R K
- Measurement of smooth surface topography using coherence scanning interferometry; Leach, R K, Brown, L*, - - Jiang, X*, Blunt, R*, Conroy, M*, Mauger, D*

(Publikace jsou dostupné po bezplatné registraci na http://www.npl.co.uk/publications/guides/)
Požadavky
Zvládnutí předepsané náplně předmětu.
Klíčová slova
Metrologie. Metrologie geometrických veličin. Geometrické vlastnosti povrchu. Souřadnicové měřicí stroje. Etalonáž. Nejistota měření. Laserinterferometry.
data online/KOS/FS :: [Helpdesk] (hlášení problémů) :: - datum tisku: 19.11.2019, 21:22 © 2011-2017 [CPS] v3.7 (master/180e4e5a/2019-10-09/02:51)