Teorie metrologických procesů (W34OZ005)
Katedra:ústav obrábění, proj. a metrologie (12134)
Zkratka:Schválen:21.01.2021
Platí do: ??Rozsah:4P+2C
Semestr:Kredity:
Zakončení:ZKJazyk výuky:CS
Anotace
• Metrologické zabezpečení a úloha v managementu jakosti
• Geometrické vlastnosti povrchu (přímost, rovinnost, kruhovitost, válcovitost, drsnost), úchylky polohy
• Dotykové a bezdotykové metody měření
• Volba metody měření a přístrojového vybavení
• Etalonáž vybraných veličin
• Teorie chyb a nejistota měření, nejčastěji používaná rozdělení
• Vyhodnocení naměřených dat
• Vybrané kalibrační postupy
• Systém norem GPS (Geometrical Product Specifications) a začlenění metrologie
• Souřadnicové měřicí stroje
• Laserinterferometry
• Měření úchylek tvaru a textury
Osnova
Literatura
• Servin, M., Quiroga, J. A., Padilla, M.: Fringe pattern analysis for optical metrology: theory, algorithms, and
applications. Hoboken, NJ: Wiley, 2014. 345 p. 9783527411528-
• Tůmová, O.: Metrologie a hodnoceni procesů. 1. vyd, Praha: BEN - technická literatura, pp. 231, 2009, ISBN 978-80-7300-249-7.
• odkaz: Moodle ČVUT https://moodle-vyuka.cvut.cz
data online/KOS/FS :: [Helpdesk] (hlášení problémů) :: - datum tisku: 19.4.2024, 21:09 © 2011-2022 [CPS] v3.8 (master/4ba2e75e/2023-03-03/01:20)